Otnox
DEDeutschland·Auftraggeber: Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften

Atomic Force Microscope (AFM)

Offen für Angebote·25 Okt. 2026

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

Veröffentlicht

25.10.2026

Offen für Angebote

25.10.2026

Otnox

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