Suomi·Ostaja: VTT Technical Research Centre of Finland

Defect inspection system

Myönnetty·14 loka 2026·EUR 1,190,000

Defect inspection system VTT is looking to acquire an automated defect inspection tool for 200 mm and 300 mm patterned wafers. The tool will enable rapid tracking of defects that appear during the manufacturing process of functional devices (in-line and end-of-line in the Front-end process). The tool must be capable of detecting particles, voids, cracks, scratches, pits, bumps, and hazes in the pattern. The materials of the patterns that the machine must be able to analyze are silicon oxides and nitrides, polysilicon, metals, and photoresist. The object of the tender process and the technical requirements are described in more detail in the invitation to tender documents.,

Julkaistu

14.10.2026

Myönnetty

14.10.2026

Määräaika

14.04.2027

Notice of discontinuation: Edge-Handling Sputtering Cluster Tool

Myönnetty·Oct 14

—

Full spectrum vibro-acoustic software

Avoinna tarjouksille·Oct 8

—

STA-GC-MS system

Myönnetty·Oct 6

EUR 286,000

Confocal Raman microscope for particle morphology and material identification

Avoinna tarjouksille·Sep 24

—

Kelvin probe force microscopy (KPFM)

Myönnetty·Sep 13

EUR 177,100

Carbonization and activation unit

Myönnetty·Sep 6

EUR 337,310

Löydä hankinnat, joihin kannattaa osallistua.

Luo tili, jotta voit tutkia tätä hankintaa ja löytää vastaavia mahdollisuuksia.

Hankinta-asiakirjatTarkastele saatavilla olevia tiedostoja yhdessä työtilassa.
Vaatimukset ja riskitTilaa asiakirja-analyysi, jossa on viitteet lähteisiin.
HankintavalikoimasiJatka valitsemillasi markkinoilla ja toimialoilla.