Loading Otnox...
Otnox
PLPoland·Buyer: POLITECHNIKA WARSZAWSKA

Dostawa i uruchomienie profilometru optycznego

Awarded·23 Jun 2026

Przedmiotem zamówienia będzie dostawa profilometru optycznego, który będzie przeznaczony do badania w sposób bezstykowy nierówności powierzchni 3D: • urządzenie umożliwiające badanie parametrów topografii powierzchni takich jak m. in. różnice wysokości, chropowatości zgodnie z najnowszymi normami ISO • głowica na kolumnie z możliwością adaptacji wysokości do wymiarów próbki, umożliwiającej skanowanie próbek o maksymalnej wysokości min. 150 mm • system powinien umożliwiać skanowanie próbek dwiema technikami jednocześnie konfokalną i różnicowania ogniskowego w celu zwiększenia liczby mierzonych punktów nie zwiększając tym samym czasu skanowania • zakres ruchu w osi Z w sposób zmotoryzowany min. 40mm, • urządzenie wyposażone w funkcję Autofocus, automatyczne ogniskowanie się na powierzchni próbki, • urządzenie w postaci platformy jednostanowiskowej lub w modułach powinno zapewnić pracę zarówno w technice konfokalnej, interferometrycznej oraz różnicowania ogniskowego. • system wyposażony w nie mniej niż 3 monochromatyczne źródła światła typu LED o długości fali: 530nm, 460nm, 630nm, oraz min. jedno źródło światła białego, niezbędne przy zastosowaniu dla próbek o różnym poziomie transparentności, refleksyjności oraz w celu uzyskania lepszej rozdzielczości • możliwość rozbudowy o dodatkowy oświetlacz pierścieniowy LED z dyfuzorem sterowany z poziomu oprogramowania, • urządzenie umożliwiające pomiar grubości oraz analizę topografii warstw transparentnych, • urządzenie pracujące z dużą dokładnością i powtarzalnością oferując rozdzielczość w osi Z na poziomie nie niższym niż: 1 nanometr dla techniki interferometrycznej niezależnie od obiektywu dla techniki VSI (Verita Scanning Interferometry); 0,1 nanomter dla techniki PSI (Phase Shifting Interferometry); 1 nanometr dla metody konfokalnej (przy użyciu odpowiedniego obiektywu o wysokiej aperturze numerycznej NA), • miska obiektywowa min. 5-cio gniazdowa, • system pomiarowy wyposażony w min. 1 obiektyw wykonanych ze szkła fluorytowego o dużej odległości roboczej umożliwiający skanowanie metodą konfokalną zarówno mniejszych jak i większych zagłębień na powierzchni, o parametrach nie gorszych niż: obiektyw 20X o aperturze numerycznej min. NA 0.45 i odległości roboczej min. 4.5mm • możliwość rozbudowy o dodatkowe obiektywy do jasnego pola oraz do interferometrii, • zakres skanowania w osi Z nie mniejszy niż: 10mm dla metody Interferometrycznej VSI oraz 36mm dla metody konfokalnej, • urządzenie wyposażone w stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu min. 110x70mm • urządzenie wyposażone w oprogramowanie: do analizy topografii powierzchni zgodnie z normą ISO 25178 oraz profilu chropowatości zgodnie z normą ISO 4287; umożlwiające tworzenie map 3D powierzchni z możliwością nanoszenia profili umożliwiając pomiary wysokości, kątów, promieni zaokrąglenia, odległości między poszczególnymi mierzonymi elementami. • możliwość rozbudowy o oprogramowanie umożliwiające pomiary seryjne, analizę i przedstawienie wyników w postaci raportu dla wielu próbek w sposób automatyczny i powtarzalny w oparciu o wcześniej przygotowane procedury pomiarowe, po automatycznym rozpoznaniu miejsca startowego przez system, • Urządzenie wyposażone w dedykowany komputer z monitorem LCD 27” + joystick, • Urządzenie wyposażone w dedykowaną kamerę 1360x1024 pikseli z matrycą CCD.

Published

23.06.2026

Awarded

23.06.2026

Otnox

Find tenders worth bidding for.

Create an account to explore this tender and find similar opportunities.

  • Tender documentsReview available files in one workspace.
  • Requirements and risksRequest a document analysis with references to the sources.
  • Your tender selectionContinue with your selected markets and sectors.