Otnox
DENiemcy·Zamawiający: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers

Zamknięte·29 wrz 2026

The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.

Opublikowano

29.09.2026

Przyjmowanie ofert

29.09.2026

Termin

29.10.2026

Otnox

Znajdź przetargi, w których warto wystartować.

Utwórz konto, aby przeanalizować to zamówienie i znaleźć podobne możliwości.

  • Dokumenty przetargowePrzeglądaj dostępne pliki w jednym obszarze roboczym.
  • Wymagania i ryzykaZleć analizę dokumentów z odnośnikami do źródeł.
  • Twoje wybrane przetargiKontynuuj z wybranymi rynkami i branżami.