Niemcy·Zamawiający: Fraunhofer Institut für LasertechnikRaman- & AFM-System
Scanning probe microscopes
Opublikowano
25.02.2026
Przyjmowanie ofert
25.02.2026
Termin
30.03.2026
DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop
Zamknięte·Sep 23
Rasterkraftmikroskop
Udzielone·Jul 12
Rasterkraftmikroskop
Udzielone·May 27
Raman- & AFM-System
Udzielone·May 12
164 - Rasterkraftmikroskop FX40
Udzielone·Mar 26
Lieferung eines SPM Rastersondenmikroskops
Udzielone·Feb 3
IPMS-MRS14.4.1: Wafer Mounter
Przyjmowanie ofert·Oct 28
IPMS-MRS14.4.3: Scanning Acoustic Microscope (SAM)
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Abfallentsorgung Gehöft AM Fahrbinde
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Beschaffung Arbeitsplatztechnik für das Landratsamt des Ilm-Kreises
Przyjmowanie ofert·Oct 28
67.24 LKW Fahrgestell mit Aufbauten
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Campuslizenz Lizenzerweiterung Studierende
Udzielone·Oct 28
Znajdź przetargi, w których warto wystartować.
Utwórz konto, aby przeanalizować to zamówienie i znaleźć podobne możliwości.
- Dokumenty przetargowePrzeglądaj dostępne pliki w jednym obszarze roboczym.
- Wymagania i ryzykaZleć analizę dokumentów z odnośnikami do źródeł.
- Twoje wybrane przetargiKontynuuj z wybranymi rynkami i branżami.