computergesteuertes hochauflösendes Rastersondenmikroskop (scanning probe microscope - SPM).
Opublikowano
03.02.2026
Przyjmowanie ofert
03.02.2026
Termin
09.03.2026
Udzielone
09.04.2026
Lieferung eines computergesteuerten Schleif-, Läpp- und Poliersystems
Przyjmowanie ofert·Oct 28
DrahterodiermaschineCNC- Erodiermaschine
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Generalplanungsleistung Forschungsbau "SEED"
Przyjmowanie ofert·Oct 27
Zwei Autoklaven
Udzielone·Oct 24
Tagung CENIDE 2027
Udzielone·Oct 24
Externe wissenschaftliche Dienstleistungen im Bereich sozial-ökologischer Transformationsforschung
Udzielone·Oct 23
DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop
Zamknięte·Sep 23
Rasterkraftmikroskop
Udzielone·Jul 12
Rasterkraftmikroskop
Udzielone·May 27
Raman- & AFM-System
Udzielone·May 12
164 - Rasterkraftmikroskop FX40
Udzielone·Mar 26
Raman- & AFM-System
Zamknięte·Feb 25
IPMS-MRS14.4.1: Wafer Mounter
Przyjmowanie ofert·Oct 28
IPMS-MRS14.4.3: Scanning Acoustic Microscope (SAM)
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Abfallentsorgung Gehöft AM Fahrbinde
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Beschaffung Arbeitsplatztechnik für das Landratsamt des Ilm-Kreises
Przyjmowanie ofert·Oct 28
67.24 LKW Fahrgestell mit Aufbauten
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Campuslizenz Lizenzerweiterung Studierende
Udzielone·Oct 28
Utwórz konto, aby przeanalizować to zamówienie i znaleźć podobne możliwości.