Nederland·Aanbesteder: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOMetrology SEM+FIB system
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.
Sluitingsdatum
07.09.2026
Gepubliceerd
03.11.2026
Gegund
03.11.2026
Box and Cassette Cleaning system
Gegund·Nov 3
Software Broker
Open voor inschrijvingen·Nov 1
Levering en installatie van en dienstverlening voor een Sunrey Installatie
Gegund·Oct 27
Contractwijziging betreffende uitbreiding van bestaand wetbench systemen binnen oorspronkelijke opdracht
Gegund·Oct 21
Backend BCB curing vacuum Oven
Open voor inschrijvingen·Oct 21
X-ray Diffraction tool
Gegund·Oct 18
X-ray Diffraction tool
Gegund·Oct 18
Metal/Backend Rapid Thermal Annealing system (TNO10)
Gegund·Sep 27
X-ray Diffraction tool
Gesloten·Jul 28
Metrology SEM+FIB system
Gesloten·Jul 28
Metal Lift-Off System (TNO44)
Gesloten·Jun 22
Metal Lift-Off System (TNO44)
Gesloten·May 20
Europese aanbesteding schoonmaakonderhoud en glasbewassing voor Waterschap Vallei en Veluwe
Open voor inschrijvingen·Nov 3
Integrale ontwikkelvisie stationsgebied Rijswijk
Gegund·Nov 3
VTH-applicatie
Open voor inschrijvingen·Nov 3
Sanering wegverkeerslawaai
Open voor inschrijvingen·Nov 3
2025 Wmo Hulpmiddelen en Scootmobiel pools
Gegund·Nov 3
Herontwikkeling Poelenburglaan
Gegund·Nov 3
Vind aanbestedingen die deelname waard zijn.
Maak een account aan om deze aanbesteding te onderzoeken en vergelijkbare kansen te vinden.
- AanbestedingsdocumentenBekijk beschikbare bestanden in één werkruimte.
- Eisen en risico’sVraag een documentanalyse met bronverwijzingen aan.
- Uw selectie aanbestedingenGa verder met uw gekozen markten en sectoren.