Otnox
NLNyderlandai·Perkančioji organizacija: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO

Metrology SEM+FIB system

Sutartis suteikta·3 lapkr. 2026·EUR 825,000

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Terminas

07.09.2026

Paskelbta

03.11.2026

Sutartis suteikta

03.11.2026

Box and Cassette Cleaning system

Sutartis suteikta·Nov 3

EUR 367,300

Software Broker

Priima pasiūlymus·Nov 1

—

Levering en installatie van en dienstverlening voor een Sunrey Installatie

Sutartis suteikta·Oct 27

EUR 506,537

Contractwijziging betreffende uitbreiding van bestaand wetbench systemen binnen oorspronkelijke opdracht

Sutartis suteikta·Oct 21

EUR 299,600

Backend BCB curing vacuum Oven

Priima pasiūlymus·Oct 21

—

X-ray Diffraction tool

Sutartis suteikta·Oct 18

EUR 481,891
Otnox

Raskite pirkimus, kuriuose verta dalyvauti.

Susikurkite paskyrą, kad galėtumėte išnagrinėti šį pirkimą ir rasti panašių galimybių.

  • Pirkimo dokumentaiPeržiūrėkite turimus failus vienoje darbo aplinkoje.
  • Reikalavimai ir rizikosUžsakykite dokumentų analizę su nuorodomis į šaltinius.
  • Jūsų pirkimų atrankaTęskite su pasirinktomis rinkomis ir veiklos sritimis.