Nyderlandai·Perkančioji organizacija: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO

Metrology SEM+FIB system

Uždaryta·28 liep. 2026

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Paskelbta

28.07.2026

Priima pasiūlymus

28.07.2026

Sąlygos atnaujintos

28.07.2026

Terminas

07.09.2026

Contractwijziging betreffende uitbreiding van bestaand wetbench systemen binnen oorspronkelijke opdracht

Sutartis suteikta·Oct 21

EUR 299,600

Backend BCB curing vacuum Oven

Priima pasiūlymus·Oct 21

—

X-ray Diffraction tool

Sutartis suteikta·Oct 18

EUR 481,891

Electrode production pilot line

Priima pasiūlymus·Oct 14

—

Transparency Notice for the Acquisition and Further Development of a Prototype Droplet Spotter System

Sutartis suteikta·Oct 2

—

Communicatieadviseur projecten unit Health & Work

Priima pasiūlymus·Oct 2

—

Raskite pirkimus, kuriuose verta dalyvauti.

Susikurkite paskyrą, kad galėtumėte išnagrinėti šį pirkimą ir rasti panašių galimybių.

Pirkimo dokumentaiPeržiūrėkite turimus failus vienoje darbo aplinkoje.
Reikalavimai ir rizikosUžsakykite dokumentų analizę su nuorodomis į šaltinius.
Jūsų pirkimų atrankaTęskite su pasirinktomis rinkomis ir veiklos sritimis.