Otnox
DEGermania·Stazione appaltante: Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften

Atomic Force Microscope (AFM)

Aperta alle offerte·25 ott 2026

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

Pubblicazione

25.10.2026

Aperta alle offerte

25.10.2026

Otnox

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