Germany·Buyer: Fraunhofer Institut für LasertechnikRaman- & AFM-System
Scanning probe microscopes
Published
25.02.2026
Open for bids
25.02.2026
Deadline
30.03.2026
DFG Großgerät Rasterkraftmikroskop
Closed·Sep 23
Rasterkraftmikroskop
Awarded·Jul 12
Rasterkraftmikroskop
Awarded·May 27
Raman- & AFM-System
Awarded·May 12
164 - Rasterkraftmikroskop FX40
Awarded·Mar 26
Lieferung eines SPM Rastersondenmikroskops
Awarded·Feb 3
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