Messgeräte zur Charakterisierung von RF-Halbleiterdevices

Ein «Trockener» Verdünnungskryostat (Ohne kryogene Flüssigkeiten)

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Wärmebehandlung von zwei etwa 100 m langen Abschnitten eines Prototyps eines supraleitenden Kabels

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Eine automatisierte Hochdurchsatz-Plattform für Whole-Slide-Imaging

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Silizium-Testwafer und doppelseitig polierte Siliziumwafer für das Reinraumlabor des Center of MicroNanotechnology

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Fortschrittliche Raman-Mikroskopieplattform

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Zwei kryogenfreie Verdünnungskryostate

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