Netherlands·Buyer: Technische Universiteit Delft

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Awarded·29 May 2026·EUR 610,000

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Published

29.05.2026

Awarded

29.05.2026

Practicumtafels/ werkbanken Physics

Open for bids·Oct 18

—

Current Research Information System 2026

Open for bids·Oct 17

—

Perceel 1 “Taxidiensten”, Perceel 2 “Executive vervoer”

Open for bids·Oct 16

—

CAR-Verzekering TU Delft

Open for bids·Oct 10

—

Bedrijfsmaatschappelijk werk

Open for bids·Oct 10

—

Marktverkenning: 11786 - Business Support softwarepakket

Closed·Sep 18

—

Find tenders worth bidding for.

Create an account to explore this tender and find similar opportunities.

Tender documentsReview available files in one workspace.
Requirements and risksRequest a document analysis with references to the sources.
Your tender selectionContinue with your selected markets and sectors.