Deutschland·Auftraggeber: Hochschule Kaiserslautern60236/Rasterelektronenmikroskop Starke
Gegenstand dieses Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines kombinierten Rasterelektronenmikroskops (REM), das mit einem Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) ausgestattet ist. Das Gesamtsystem wird für wissenschaftliche Forschungszwecke beschafft. Es dient dazu, Probenoberflächen hochauflösend visuell darzustellen und gleichzeitig deren topografische sowie magnetische Eigenschaften im Nanobereich präzise zu analysieren.
Veröffentlicht
01.10.2026
Zuschlag erteilt
01.10.2026
in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)
Offen für Angebote·Oct 28
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2026-09-15/0084/LABE: Rasterelektronenmikroskop
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