Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) einschließlich Lieferung, Installation und Inbetriebnahme.
Опубліковано
02.08.2026
Прийом пропозицій
02.08.2026
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