Países Baixos·Comprador: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO

Metrology SEM+FIB system

Fechado·28 jul 2026

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Publicado

28.07.2026

Aberto para propostas

28.07.2026

Condições atualizadas

28.07.2026

Prazo

07.09.2026

Contractwijziging betreffende uitbreiding van bestaand wetbench systemen binnen oorspronkelijke opdracht

Concedido·Oct 21

EUR 299,600

Backend BCB curing vacuum Oven

Aberto para propostas·Oct 21

—

X-ray Diffraction tool

Concedido·Oct 18

EUR 481,891

Electrode production pilot line

Aberto para propostas·Oct 14

—

Transparency Notice for the Acquisition and Further Development of a Prototype Droplet Spotter System

Concedido·Oct 2

—

Communicatieadviseur projecten unit Health & Work

Aberto para propostas·Oct 2

—

Encontre licitações das quais vale a pena participar.

Crie uma conta para analisar este concurso e encontrar oportunidades semelhantes.

Documentos da licitaçãoConsulte os arquivos disponíveis em um só espaço de trabalho.
Requisitos e riscosSolicite uma análise dos documentos com referências às fontes.
Sua seleção de licitaçõesContinue com os mercados e setores selecionados.