Países Baixos·Comprador: Technische Universiteit Delft

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Concedido·29 mai 2026·EUR 610,000

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Publicado

29.05.2026

Concedido

29.05.2026

Practicumtafels/ werkbanken Physics

Aberto para propostas·Oct 18

—

Current Research Information System 2026

Aberto para propostas·Oct 17

—

Perceel 1 “Taxidiensten”, Perceel 2 “Executive vervoer”

Aberto para propostas·Oct 16

—

CAR-Verzekering TU Delft

Aberto para propostas·Oct 10

—

Bedrijfsmaatschappelijk werk

Aberto para propostas·Oct 10

—

Marktverkenning: 11786 - Business Support softwarepakket

Fechado·Sep 18

—

Encontre licitações das quais vale a pena participar.

Crie uma conta para analisar este concurso e encontrar oportunidades semelhantes.

Documentos da licitaçãoConsulte os arquivos disponíveis em um só espaço de trabalho.
Requisitos e riscosSolicite uma análise dos documentos com referências às fontes.
Sua seleção de licitaçõesContinue com os mercados e setores selecionados.