Alemanha·Comprador: Hochschule Kaiserslautern60236/Rasterelektronenmikroskop Starke
Gegenstand dieses Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines kombinierten Rasterelektronenmikroskops (REM), das mit einem Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) ausgestattet ist. Das Gesamtsystem wird für wissenschaftliche Forschungszwecke beschafft. Es dient dazu, Probenoberflächen hochauflösend visuell darzustellen und gleichzeitig deren topografische sowie magnetische Eigenschaften im Nanobereich präzise zu analysieren.
Publicado
01.10.2026
Concedido
01.10.2026
Elektronenstrahllithografie
Aberto para propostas·Oct 22
2026-09-15/0084/LABE: Rasterelektronenmikroskop
Concedido·Oct 13
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Rasterelektronenmikroskop
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Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl (FIB-SEM)
Concedido·Aug 22
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Fechado·Aug 4
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