Loading Otnox...
Otnox
NLHolandia·Zamawiający: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO

Metrology SEM+FIB system

Zamknięte·28 lip 2026

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Opublikowano

28.07.2026

Przyjmowanie ofert

28.07.2026

Warunki zaktualizowane

28.07.2026

Termin

07.09.2026

Otnox

Znajdź przetargi, w których warto wystartować.

Utwórz konto, aby przeanalizować to zamówienie i znaleźć podobne możliwości.

  • Dokumenty przetargowePrzeglądaj dostępne pliki w jednym obszarze roboczym.
  • Wymagania i ryzykaZleć analizę dokumentów z odnośnikami do źródeł.
  • Twoje wybrane przetargiKontynuuj z wybranymi rynkami i branżami.