Holandia·Zamawiający: Technische Universiteit Delft

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Udzielone·29 maj 2026·EUR 610,000

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Opublikowano

29.05.2026

Udzielone

29.05.2026

Marktconsultatie Preventief Medisch Onderzoek (PMO) en Periodiek Arbeidsgezondheidskundig onderzoek (PAGO)

Przyjmowanie ofert·Oct 26

—

Practicumtafels/ werkbanken Physics

Przyjmowanie ofert·Oct 18

—

Current Research Information System 2026

Przyjmowanie ofert·Oct 17