Gegenstand dieses Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines kombinierten Rasterelektronenmikroskops (REM), das mit einem Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) ausgestattet ist. Das Gesamtsystem wird für wissenschaftliche Forschungszwecke beschafft. Es dient dazu, Probenoberflächen hochauflösend visuell darzustellen und gleichzeitig deren topografische sowie magnetische Eigenschaften im Nanobereich präzise zu analysieren.
Opublikowano
01.10.2026
Udzielone
01.10.2026
in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Elektronenstrahllithografie
Przyjmowanie ofert·Oct 22
2026-09-15/0084/LABE: Rasterelektronenmikroskop
Udzielone·Oct 13
Modernisierung Steuerelektronik Elektronenmikroskop Institut für Physik 2026
Zamknięte·Sep 17
Rasterelektronenmikroskop
Udzielone·Aug 27
Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl (FIB-SEM)
Udzielone·Aug 22
Beschaffung einer Plattform für digitale IHK-Prüfungen
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Bau einer Multisportanlage in Moritzburg
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Neubau eines Aufzugs an der Hochbrücke in 78628 Rottweil - Fassade
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Neubau eines Aufzugs an der Hochbrücke in 78628 Rottweil - Stahlbau
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Neubau eines Aufzugs an der Hochbrücke in 78628 Rottweil - Verkehrssicherung
Przyjmowanie ofert·Oct 28
ESMT - Ausbau Bauteil A _Schloßplatz 1_10178 Berlin
Przyjmowanie ofert·Oct 28
Utwórz konto, aby przeanalizować to zamówienie i znaleźć podobne możliwości.