Loading Otnox...
Otnox
🇩🇰Danmark·Innkjøper: Danmarks Tekniske Universitet - DTU

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Åpen for tilbud·15 okt. 2026

DTU requires the supply, delivery, installation, commissioning and acceptance of one (1) focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) dual-beam platform. The instrument shall serve a multi-user research environment and will be used for high-resolution surface imaging, site-specific cross-sectioning, TEM lamella preparation (including automated workflows), 3D FIB-SEM tomography, gas-assisted deposition and etching, nanoscale manipulation, and elemental microanalysis by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ToF-SIMS.

Publisert

15.10.2026

Åpen for tilbud

15.10.2026

Frist

16.11.2026

Otnox

Finn anskaffelser det er verdt å delta i.

Opprett en konto for å undersøke anskaffelsen og finne lignende muligheter.

  • AnskaffelsesdokumenterSe tilgjengelige filer i ett arbeidsområde.
  • Krav og risikoerBestill dokumentanalyse med henvisninger til kildene.
  • Ditt utvalg av anskaffelserFortsett med dine valgte markeder og bransjer.