Otnox
DETyskland·Innkjøper: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Lukket·13 sep. 2026

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Publisert

13.09.2026

Åpen for tilbud

13.09.2026

Frist

13.10.2026

Otnox

Finn anskaffelser det er verdt å delta i.

Opprett en konto for å undersøke anskaffelsen og finne lignende muligheter.

  • AnskaffelsesdokumenterSe tilgjengelige filer i ett arbeidsområde.
  • Krav og risikoerBestill dokumentanalyse med henvisninger til kildene.
  • Ditt utvalg av anskaffelserFortsett med dine valgte markeder og bransjer.