Lieferung und Installation Physical Properties Measurement System

halbautomatischer Waferprober

Lieferung und Installation eines Dual Beam Sputter Systems

VRTP-Kammern

Development and Series Production of Current-to-Frequency Converters for SIS100

Messgeräte

Two Source Measurement Units (SMUs)

opto-isoliertes HF-Tastkopf-System

Module electrical measurement: Oscilloscope, Source Meter, LCR Meter, Electrical Switch Matrix (Los 1: ENAS-14.2.1) & Module electrical measurement: Multi-measurement control (Los 2: ENAS-14.2.2) - PR1232018-3340-P

200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Briefdienstleistungen Interner Service Bielefeld

Unterhaltsreinigung in der Bayerischen Staatskanzlei

Betriebsdienst und Unterhaltungsarbeiten 26-28

RV Digital Signature Monitore

HL - Winterdienst_ - 2026-ff _AM Bad Oldesloe

Unterhalts- und Grundreinigung bei der Hochschule Esslingen am Standort Göppingen