fotoemisjonsinstrument (PEEM)
Buyer: Universitetet i Oslo (NO)
Published: 8/12/2025
Awarded to: SPECS Surface Nano Analysis
Category: Mikroskopi.
Description
Vi søker et energi-filtrert fotoemisjon elektronmikroskopi for sanntids spektroskopisk avbildning i ultrahøy vakuum. Instrumentet bør ha k-space avbildningskapasiteter, med omfattende utvalg av teknikker er tilgjengelige. Systemet må være datastyrt og tilfredsstille alle HSE-reguleringer. Den minste nødvendige løsningen levert av leverandøren må inkludere den komplette PEEM linse stack, avbildningsenergifilter, detektor/kameraenhet og alle elektroniske komponenter som kreves for å drive instrumentet.