Vokietija·Perkančioji organizacija: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Uždaryta·13 rugs. 2026

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Paskelbta

13.09.2026

Priima pasiūlymus

13.09.2026

Terminas

13.10.2026

Semiconductor Switch-Matrix

Priima pasiūlymus·Oct 13

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Fachliche Unterstützung für die Entwicklung von Hochvolt-Treibern

Priima pasiūlymus·Oct 10

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Service-Support-Vertrag für NIKON-Belichtungsmaschinen

Priima pasiūlymus·Oct 9

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Prüfung ortsveränderlicher elektrischer Betriebsmittel

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