Nyderlandai·Perkančioji organizacija: Technische Universiteit Delft

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Sutartis suteikta·29 geg. 2026·EUR 610,000

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Paskelbta

29.05.2026

Sutartis suteikta

29.05.2026

Practicumtafels/ werkbanken Physics

Priima pasiūlymus·Oct 18

—

Current Research Information System 2026

Priima pasiūlymus·Oct 17

—

Perceel 1 “Taxidiensten”, Perceel 2 “Executive vervoer”

Priima pasiūlymus·Oct 16

—

CAR-Verzekering TU Delft

Priima pasiūlymus·Oct 10

—

Bedrijfsmaatschappelijk werk

Priima pasiūlymus·Oct 10

—

Marktverkenning: 11786 - Business Support softwarepakket

Uždaryta·Sep 18

—

Raskite pirkimus, kuriuose verta dalyvauti.

Susikurkite paskyrą, kad galėtumėte išnagrinėti šį pirkimą ir rasti panašių galimybių.

Pirkimo dokumentaiPeržiūrėkite turimus failus vienoje darbo aplinkoje.
Reikalavimai ir rizikosUžsakykite dokumentų analizę su nuorodomis į šaltinius.
Jūsų pirkimų atrankaTęskite su pasirinktomis rinkomis ir veiklos sritimis.