Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) einschließlich Lieferung, Installation und Inbetriebnahme.
Pubblicazione
02.08.2026
Aperta alle offerte
02.08.2026
Condizioni aggiornate
02.08.2026
Scadenza
10.09.2026
in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)
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