Otnox
DEAllemagne·Acheteur: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Clôturé·13 sept. 2026

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Publié

13.09.2026

Ouvert aux offres

13.09.2026

Date limite

13.10.2026

Otnox

Trouvez les appels d’offres auxquels il vaut la peine de répondre.

Créez un compte pour étudier cet appel d’offres et trouver des opportunités similaires.

  • Documents de l’appel d’offresConsultez les fichiers disponibles dans un seul espace de travail.
  • Exigences et risquesDemandez une analyse des documents avec des références aux sources.
  • Votre sélection d’appels d’offresPoursuivez avec les marchés et secteurs choisis.