Otnox
DEAllemagne·Acheteur: Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften

Atomic Force Microscope (AFM)

Ouvert aux offres·25 oct. 2026

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

Publié

25.10.2026

Ouvert aux offres

25.10.2026

Otnox

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