Saksa·Ostaja: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Suljettu·13 syys 2026

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Julkaistu

13.09.2026

Avoinna tarjouksille

13.09.2026

Määräaika

13.10.2026

Semiconductor Switch-Matrix

Avoinna tarjouksille·Oct 13

—

Fachliche Unterstützung für die Entwicklung von Hochvolt-Treibern

Avoinna tarjouksille·Oct 10

—

Service-Support-Vertrag für NIKON-Belichtungsmaschinen

Avoinna tarjouksille·Oct 9

—

Erweiterung der Elektroversorgung - Errichtung einer USV-Anlage und Klimatisierung in der Reinraumerweiterung

Suljettu·Sep 25

—

Prüfung ortsveränderlicher elektrischer Betriebsmittel

Suljettu·Sep 17

—

Erweiterung der Elektroversorgung - Errichtung einer USV-Anlage und Klimatisierung in der Reinraumerweiterung

Suljettu·Sep 17

—

Löydä hankinnat, joihin kannattaa osallistua.

Luo tili, jotta voit tutkia tätä hankintaa ja löytää vastaavia mahdollisuuksia.

Hankinta-asiakirjatTarkastele saatavilla olevia tiedostoja yhdessä työtilassa.
Vaatimukset ja riskitTilaa asiakirja-analyysi, jossa on viitteet lähteisiin.
HankintavalikoimasiJatka valitsemillasi markkinoilla ja toimialoilla.