Saksa·Ostaja: Hochschule Kaiserslautern60236/Rasterelektronenmikroskop Starke
Gegenstand dieses Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines kombinierten Rasterelektronenmikroskops (REM), das mit einem Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) ausgestattet ist. Das Gesamtsystem wird für wissenschaftliche Forschungszwecke beschafft. Es dient dazu, Probenoberflächen hochauflösend visuell darzustellen und gleichzeitig deren topografische sowie magnetische Eigenschaften im Nanobereich präzise zu analysieren.
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