Alemania·Comprador: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikSemi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
Publicado
13.09.2026
Abierto para ofertas
13.09.2026
Fecha límite
13.10.2026
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