Países Bajos·Comprador: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO

Metrology SEM+FIB system

Cerrado·28 jul 2026

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Publicado

28.07.2026

Abierto para ofertas

28.07.2026

Condiciones actualizadas

28.07.2026

Fecha límite

07.09.2026

Contractwijziging betreffende uitbreiding van bestaand wetbench systemen binnen oorspronkelijke opdracht

Adjudicado·Oct 21

EUR 299,600

Backend BCB curing vacuum Oven

Abierto para ofertas·Oct 21

—

X-ray Diffraction tool

Adjudicado·Oct 18

EUR 481,891

Electrode production pilot line

Abierto para ofertas·Oct 14

—

Transparency Notice for the Acquisition and Further Development of a Prototype Droplet Spotter System

Adjudicado·Oct 2

—

Communicatieadviseur projecten unit Health & Work

Abierto para ofertas·Oct 2

—

Encuentra licitaciones en las que merezca la pena participar.

Cree una cuenta para estudiar esta licitación y encontrar oportunidades similares.

Documentos de la licitaciónConsulta los archivos disponibles en un solo espacio de trabajo.
Requisitos y riesgosSolicita un análisis de los documentos con referencias a las fuentes.
Tu selección de licitacionesContinúa con los mercados y sectores seleccionados.