Países Bajos·Comprador: Technische Universiteit Delft

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Adjudicado·29 may 2026·EUR 610,000

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies.

Publicado

29.05.2026

Adjudicado

29.05.2026

Marktconsultatie Preventief Medisch Onderzoek (PMO) en Periodiek Arbeidsgezondheidskundig onderzoek (PAGO)

Abierto para ofertas·Oct 26

—

Practicumtafels/ werkbanken Physics

Abierto para ofertas·Oct 18

—

Current Research Information System 2026

Abierto para ofertas·Oct 17

—

Perceel 1 “Taxidiensten”, Perceel 2 “Executive vervoer”

Abierto para ofertas·Oct 16

—

CAR-Verzekering TU Delft

Abierto para ofertas·Oct 10

—

Bedrijfsmaatschappelijk werk

Abierto para ofertas·Oct 10

—

Encuentra licitaciones en las que merezca la pena participar.

Cree una cuenta para estudiar esta licitación y encontrar oportunidades similares.

Documentos de la licitaciónConsulta los archivos disponibles en un solo espacio de trabajo.
Requisitos y riesgosSolicita un análisis de los documentos con referencias a las fuentes.
Tu selección de licitacionesContinúa con los mercados y sectores seleccionados.